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Laboratório
Laboratório de Espectroscopia Vibracional (LEV) -
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Equipamento
FTIR BX - Perkim Elmer
Descrição
A reflectância especular ocorre na grande maioria das superfícies que constituem a fronteira entre fases. A natureza da radiação refletida depende da natureza do feixe incidente, bem como das propriedades ópticas dos meios em questão. Assim, podem-se utilizar dados de reflectância para se determinar as propriedades ópticas das substâncias de interesse, se as características do processo de reflexão são bem entendidas. Contudo, as constantes ópticas não podem ser identificadas a partir das características estruturais das curvas de reflectância especular. Para tal fim, conta-se com análises matemáticas complexas para a obtenção de dados tanto qualitativos quanto quantitativos.
Espectros de boa qualidade podem ser obtidos a partir de filmes em superfícies planas brilhantes, papel brilhante, superfícies metálicas e pastilhas semicondutoras, como silício e germânio, usando a reflexão especular de ângulo fixo. Também pode-se obter espectros de alta qualidade de materiais com tratamento de superfície, revestimentos, superfícies pouco lubrificadas, resina e superfícies plásticas moldadas.
